本文標(biāo)題："檢測(cè)表面粗糙度時(shí)、常用的有那幾個(gè)方法"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過 -----時(shí)間：2014-7-2 16:38:47

 檢測(cè)表面粗糙度時(shí)、常用的有那幾個(gè)方法

顯微鏡比較法、主要是把被測(cè)表面跟表面粗糙度的比較樣塊放置在一起、然后用比較顯微鏡來觀測(cè)兩個(gè)被放大的表面、以樣塊工作面上的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn)、觀測(cè)比較被測(cè)表面有沒有達(dá)到相應(yīng)樣塊的表面粗糙度、以此來判定被測(cè)表面粗糙度是否符合規(guī)定。

光切顯微鏡測(cè)量法、光切顯微鏡主要是采用光切原理測(cè)量表面粗糙度的方法、可以從目鏡觀測(cè)表面粗糙度輪廓圖像、用測(cè)微裝置測(cè)量RZ值跟RY值、也可以通過測(cè)量來描繪出輪廓圖像、再來計(jì)算Ra值、因此這種方法比較多而且不怎么用、必要的時(shí)候可以將粗糙度輪廓圖像拍攝下來評(píng)定、一般光切顯微鏡適合用于計(jì)量室。

樣塊比較法、以表面粗糙度比較樣塊工作面上的粗糙度作為表面、用視覺發(fā)或者處決法跟被測(cè)表面進(jìn)行對(duì)比、在用樣塊進(jìn)行比較檢驗(yàn)的時(shí)候、樣塊跟被測(cè)面的材質(zhì)、加工方法可能一致、

樣塊比較法簡(jiǎn)單比較容易、主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

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檢測(cè)表面粗糙度時(shí)、常用的有那幾個(gè)方法,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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